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Veranstaltung
Mustererkennung [SS2124675]
Dozent/en
Einrichtung
- KIT-Fakultät für Informatik
Bestandteil von
- Teilleistung Mustererkennung | Wirtschaftsinformatik (M.Sc.)
- Teilleistung Mustererkennung | Informationswirtschaft (M.Sc.)
Literatur
Weiterführende Literatur
- Richard O. Duda, Peter E. Hart, Stork G. David. Pattern Classification. Wiley-Interscience, second edition, 2001
- K. Fukunaga. Introduction to Statistical Pattern Recognition. Academic Press, second edition, 1997
- R. Hoffman. Signalanalyse und -erkennung. Springer, 1998
- H. Niemann. Pattern analysis and understanding. Springer, second edition, 1990
- J. Schürmann. Pattern classification. Wiley & Sons, 1996
- S. Theodoridis, K. Koutroumbas. Pattern recognition. London: Academic, 2003
- V. N. Vapnik. The nature of statistical learning theory. Springer, second edition, 2000
Veranstaltungstermine
- 14.04.2021 14:00 - 15:30 - Room: 50.34 Raum -101
- 21.04.2021 14:00 - 15:30 - Room: 50.34 Raum -101
- 28.04.2021 14:00 - 15:30 - Room: 50.34 Raum -101
- 05.05.2021 14:00 - 15:30 - Room: 50.34 Raum -101
- 12.05.2021 14:00 - 15:30 - Room: 50.34 Raum -101
- 19.05.2021 14:00 - 15:30 - Room: 50.34 Raum -101
- 02.06.2021 14:00 - 15:30 - Room: 50.34 Raum -101
- 09.06.2021 14:00 - 15:30 - Room: 50.34 Raum -101
- 16.06.2021 14:00 - 15:30 - Room: 50.34 Raum -101
- 30.06.2021 14:00 - 15:30 - Room: 50.34 Raum -101
- 07.07.2021 14:00 - 15:30 - Room: 50.34 Raum -101
- 14.07.2021 14:00 - 15:30 - Room: 50.34 Raum -101
- 21.07.2021 14:00 - 15:30 - Room: 50.34 Raum -101